RSA-Migrationsanalyse zum zementfreien A2® Schaft veröffentlicht

RSA-Migrationsanalyse zum zementfreien A2® Schaft veröffentlicht Kurzschaftversorgung: Ein Konzept der Zukunft

RSA-Migrationsanalyse zum zementfreien A2® Schaft veröffentlicht

RSA-Migrationsanalyse zum zementfreien A2® Schaft veröffentlicht

RSA-Migrationsanalyse zum zementfreien A2® Schaft veröffentlicht Kurzschaftversorgung: Ein Konzept der Zukunft

In der jüngsten Ausgabe von Scientific Report findet sich die randomisierte RSA-Migrationsanalyse des A2® Kurzschaftsystems. Sie trifft wichtige Aussagen über die Langzeitprognose und Sicherheit des Implantats. Wir fassen einige wesentliche Aspekte der Studie für Sie zusammen.

Hauptziel: Aussagen über die Langzeitprognose und Sicherheit anhand des Migrationsschemas

Die Radiostereometrie-Analyse (RSA) ist eine präzise Methode, um postoperativ kleinste Bewegungen eines Implantats zu messen. Mit diesem aufwändigen Studiendesign können verlässliche Aussagen über das Migrationsverhalten und den Prozess der Osseointegration getroffen werden.

Eine Besonderheit der Studie: Während frühere RSA-Studien erste Nachuntersuchungen erst nach 3 Monaten vorsahen, setzte die vorliegende Arbeit zusätzliche Nachuntersuchungen nach sieben Tagen und sechs Wochen an. So konnte festgestellt werden, dass 67 % der beobachteten A2® Kurzschäfte eine Woche nach dem Eingriff ihre endgültige Position erreicht hatten und nicht mehr migrierten. Im Verlauf zeigten die Implantate eine zügige und vollständige Stabilisierung und eine gute Osseointegration. “Dieses Migrationsmuster lässt auf eine sehr gute Langzeitprognose schließen und leistet einen wichtigen Beitrag, um die generelle Sicherheit des Implantats einzuordnen”, fasst Prof. Dr. Budde das Hauptziel der Studie zusammen.

Effekt bioaktiver Beschichtungen auf die Osseointegration

Die Implantatbeschichtung kann das Migrationsmuster beeinflussen. Deshalb untersuchte die vorliegende Studie erstmals die Auswirkungen bioaktiver Beschichtungen auf ein Kurzschaftsystem. Die Hälfte der in der Studie eingeschlossenen 60 Patienten erhielt randomisiert den A2® Kurzschaft mit Titan-Plasmaspray-Beschichtung (TPS), die andere Hälfte den A2® Kurzschaft mit einer zusätzlichen BONIT® Calciumphosphat-Beschichtung.

Die Studiendaten zeigen, dass die zusätzliche BONIT® CP-Beschichtung keinen positiven Einfluss auf die Implantatmigration hat. Interessanterweise zeigte die reine TPS-Beschichtung eine signifikant geringere Migration als die beschichtete Gruppe. „Seit jeher nutzten die Hersteller eine Zusatzbeschichtung, um das Einwachsverhalten zu verbessern. Mit beiden Beschichtungen zeigt das System ein gutes Migrationsverhalten. Es war für uns jedoch ein unerwartetes Ergebnis, dass wir keine Überlegenheit der zusätzlichen BONIT® CP-Beschichtung hinsichtlich der Implantatmigration feststellen konnten“, erläutert Prof. Budde die Ergebnisse.

Quelle: Budde, S., Derksen, A., Hurschler, C. et al. Very early migration of a calcar-guided short stem: a randomized study of early mobilization and the influence of a calcium phosphate coating with 60 patients. Sci Rep14, 3837 (2024).